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    題名: 光學導納監控與檢測系統開發;Development of Monitoring and Testing System for Optical Admittance
    作者: 李正中
    貢獻者: 光電科學與工程學系
    關鍵詞: 光學薄膜;光學監控;光學常數量測;光學導納;雷射線濾光片;高密度波長多工器;光通訊;光學干涉儀;Optical thin film;Optical monitor;Optical constants measurement;Optical admittance;Optical interferometry;Laser line filter;Dense wavelength division multiplexing (DWDM);光電工程
    日期: 2010-08-01
    上傳時間: 2011-07-13 16:23:34 (UTC+8)
    出版者: 行政院國家科學委員會
    摘要: 研究期間：9908 ~ 10007
    關聯: 財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
    顯示於類別:[光電科學研究中心] 研究計畫

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