Optical characterization studies of grown-in defects in ZnO epilayers grown by molecular beam epitaxy

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题名:	Optical characterization studies of grown-in defects in ZnO epilayers grown by molecular beam epitaxy
作者:	Wang,X. J.;Buyanova,I. A.;Chen,W. M.;Pan,C. J.;Tu,C. W.
贡献者:	光電科學研究中心
关键词:	MAGNETIC-RESONANCE;ESR-SPECTRA;EXCITON
日期:	2007
上传时间:	2010-07-07 15:49:19 (UTC+8)
出版者:	中央大學
摘要:	Defect formation in ZnO epilayers grown by molecular beam epitaxy (MBE) is studied by employing optical characterization techniques such as photoluminescence (PL) and optically detected magnetic resonance (ODMR). Excess of oxygen during the growth was fou
關聯:	PHYSICA B-CONDENSED MATTER
显示于类别:	[光電科學研究中心] 期刊論文

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